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片面焼結

チップの裏面を基板に接続するはんだ層は、従来、特にパワーサイクルにおいて弱点となっていました。このはんだ層を銀の層に置き換えることで、片面焼結技術はパワーモジュールのパワーサイクル寿命を劇的に向上させました。

動作温度とパワーサイクル能力の向上

片面焼結技術

セミクロンダンフォスは、大量生産されたパワー半導体モジュールに銀焼結を採用した先駆者です。2007年に初めて導入された片面焼結技術プロセスでは、高温・高圧を利用して銀粉を焼結し、非常に気孔率の低い層を形成します。その結果生じる銀層の融解温度は、従来のスズ銀はんだの約 4 倍です。

これにより、銀層の融解温度とチップの動作温度の差が大きくなります。動作中の熱機械的応力、したがってこの層の変形が大幅に減少します。

さらに、焼結銀の層の厚さは従来のはんだよりも 70% 薄くなっています。これにより、チップからシンクまでの熱抵抗が大幅に低減されます。 

片面焼結技術の概要

利点

  • 高いパワーサイクル能力
  • チップの動作温度が高い
  • 低い熱抵抗

製品

  • SKiM 93
  • SKiiP 4/7 IPM
  • SEMITRANS 20
  • MiniSKiiP